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400-7075-800簡要描述:交變冷熱沖擊試驗(yàn)箱機(jī)器根據(jù)待測(cè)試群的特殊性,三箱式靜態(tài)沖擊,既可作冷熱沖擊試驗(yàn),也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛使用于航空航天、單位、汽車、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等,同時(shí)可通過此試驗(yàn),進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
交變冷熱沖擊試驗(yàn)箱機(jī)器根據(jù)待測(cè)試群的特殊性,三箱式靜態(tài)沖擊,既可作冷熱沖擊試驗(yàn),也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛使用于航空航天、單位、汽車、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等,同時(shí)可通過此試驗(yàn),進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
交變冷熱沖擊試驗(yàn)箱機(jī)器【設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)】
1、GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 2、GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件3、GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)4、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)5、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)6、GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)7、GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)8、GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)9、GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)
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