電子控溫冷熱沖擊箱適用的對(duì)象包括電路板、PCB板、線路板、PCB、電子元器件、電子產(chǎn)品、電阻、電容、電源、電池、連接器、建材、油漆、涂料、LED、LED照明、LED顯示屏、LCD、LCD模組、光電、光纖、光伏組件、金屬，塑料，橡膠，膠粘、印刷、航空、航天、儀器儀表等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。三箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試產(chǎn)品及零部件、材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

電子控溫冷熱沖擊箱滿足的試驗(yàn)方法有：SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)；GB/T 2423.22-2002溫度變化；GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估等等。

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