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400-7075-800簡要描述:高溫老化實驗房內(nèi)有功能高溫、低溫、高低溫、高溫高濕、濕熱、低溫低濕、恒溫恒濕等功能可循環(huán)或交變試驗各種各樣的工業(yè)產(chǎn)品、電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、機動車輛的成品或者半成品等。
高溫老化實驗房內(nèi)有功能高溫、低溫、高低溫、高溫高濕、濕熱、低溫低濕、恒溫恒濕等功能可循環(huán)或交變試驗各種各樣的工業(yè)產(chǎn)品、電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、機動車輛的成品或者半成品等。
高溫老化實驗房性能參數(shù):
1.溫度控制范圍:A: 0~80℃(100℃);B:-20~+80℃(100℃);C:-40~+80℃(100℃);D:-70~+80℃(100℃)
2.升溫速率: RT+10℃→+80℃ ≤30 min(非線性空載)
3.降溫速率: +20℃→-70℃ ≤100 min(非線性空載)
※ 溫度變化速率為空氣溫度變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率
4.溫控波動度:±0.5℃.
5.溫控均勻度:±2.0℃.
滿足與執(zhí)行標準如下:
GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件;
GB/T11158-2006高溫試驗箱技術(shù)條件;
GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件;
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫;GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫;
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗;GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h+12h循環(huán))
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